捕获纳米级光学图案的图像

2018-09-12

Capturing images of light patterns at the nanoscale

Ruslan Röhrich, Chris Hoekmeijer, Clara I. Osorio & A. Femius Koenderink .

Citation: Light: Science & Applicationsvolume 7, Article number: 65 (2018
Published online 12 September 2018

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文章概要:捕获纳米级光学图案的图像

    研究人员开发出一种三合一显微技术,能够解决纳米级天线散射光的各种特性。该技术可应用于研究纳米光学(纳米光子学)中的光特性以及使用光来设定定义测量单位(光学计量学)的标准的科学和技术中。荷兰AMOLF’s纳米光子学中心的Femius Koenderink及其同事开发了一种方法,该方法结合了傅立叶显微镜,偏振测量和数字全息技术来测量通过单个纳米结构散射的辐射图。该技术使研究人员能够更清晰地观察到例如可产生扭曲光的螺旋纳米结构的物理特性。纳米光子学研究中更精确的测量可能会引领电信,计算和传感领域的革命性应用。