拉曼显微镜:探测近表面纳米级样品

2017-10-20

Raman microscopy: nanoscale samples near surfaces can be probed

Diana Serrano and Stefan Seeger

Citation: Light: Science & Applications (2017) 6, e17066; doi:10.1038/lsa.2017.66
Published online 20 October 2017

Abstract | Full Text | PDF

文章概要:拉曼显微镜:探测近表面纳米级样品

在无增强场的作用情况下可以探测到近表面处纳米尺度样品的一种新形式的拉曼显微镜已经被展现。拉曼散射是获取有关分子系统重要信息的有力工具,但其应用受到固有弱信号的限制。来自瑞士苏黎世大学的Diana Serrano和Stefan Seeger已经证明通过收集角度超过全内反射临界角发射的拉曼光而不利用场放大或场增强,拉曼显微镜可以探测到纳米尺度的样品。该技术应用了在较高折射率介质界面附近的偶极子能够以大于临界角的角度发射光的效应。虽然这种效应已经被应用于荧光探针,但这是首次被应用于拉曼光谱探测。