2D材料:高分辨率探头

2018-05-04

2D materials: high resolution probe

Sotiris Psilodimitrakopoulos, Leonidas Mouchliadis, Ioannis Paradisanos, Andreas Lemonis, George Kioseoglou and et al.

Citation: Light: Science & Applications (2018) 7, e18005; doi:10.1038/lsa.2018.5

Published online 04 May 2018

Abstract | Full Text | PDF

文章概要:2D材料:高分辨率探头

本文以120 ×120 nm2的分辨率揭示了流行的二维材料——过渡金属二硫化物的晶体特性。来自希腊克里特大学、希腊研究与技术基金会的Sotiris Psilodimitrakopoulos等利用非线性激光扫描光学显微镜揭示了WS2大面积晶体中晶格取向和晶体缺陷的信息。该团队基于偏振分辨二次谐波成像的全光学方法是快速的,非侵入式的,它的单层WS2的主晶轴的取向映射的分辨率可达120 ×120 nm2。研究人员通过从成像方案中提取的信息,可以为WS2晶体的非线性光学性质建立一个新的理论模型,并有助于制造无缺陷的大面积2D材料。